プローブ･カード
Pyramid Probe®
カスケード・マイクロテック社ピラミッド・プローブは高速デバイス、高周波デバイスの製品テストやデバイス設計過程で多くの利点をもたらします。
低インダクタンス・グランド・コンタクト、ダイに近い低インピーダンス・バイパス・キャパシタ、制御されたインピーダンス信号線の優れた電気的性能は、ウェーハ・レベルの完全な性能テストを実現可能にします。
各種Pyramid Probeカードのご紹介
Pyramid Probeカードの技術的利点
- KGD(Known Good Die)の提供
- マルチチップモジュールでのパッケージやモジュールの損失を低減
- 歩留まりを向上し、ガードバンドを小さくする事が可能
- 高価なパッケージを必要とせず、ウェーハレベルでのテストが可能
- すぐれた電気的性能
- 狭ピッチ に対応
- クリーニングが容易
| RF | SRF | MSI | LSI | VLSR | Parametric |
ｲﾝﾀﾌｪｰｽ･ﾎﾟｲﾝﾄ | 108 | 264 | 408 | 520 | 804 | 48 |
帯域 (GHz) | 20 | 20 | 20 | 15 | 20 | 20 |
立上り時間 20/80 | 15 ps | 15 ps | 17 ps | 19 ps | 17 ps | 15 ps |
ﾀﾞｲ･ｻｲｽﾞ X/Y mm | 4.0/4.0 | 4.0/4.0 | 9.9/9.9 | 24/24 | 38/12 | 4.0/4.0 |
ﾘｰｹｰｼﾞ | 10 nA | 10 nA | 10 nA | 10 nA | 10 nA | 20 fA |
Pyramid Probeカード関連資料
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カスケード・マイクロテック株式会社
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| 関連資料 |
|---|
| Parametric Pyramid Probe Card Datasheet |
| RF Pyramid Probe Datasheet |
| Pyramid Probe Family Brochure |
| Pyramid Probe™シリーズ･プローブ･カードとカンチレバー・プローブ・カードとの比較 |
